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“电子元器件失效分析技术与案例”高级研修班

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       “电子元器件失效分析技术与案例”高级研修班 word版       课程提纲
  开课信息:   课程编号:KC1502  
  开课日期(天数) 上课地区 费用  
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招生对象
---------------------------------
系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员,质量可靠性管理和失效分析工程师;
课程内容
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为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求,中国电子电器可靠性工程协会决定在全国组织召开“电子元器件失效分析与案例”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲,通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的失效机理、失效分析方法和纠正措施。具体事宜通知如下:


课程提纲:
第一部分电子元器件失效分析技术案例
1.失效分析的基本概念和一般程序
2.失效分析的电测试
3.无损失效分析
4.模拟失效分析
5.制样技术
6.形貌像技术
7.扫描电镜电压衬度像
8.热点检测技术
9.聚焦离子束技术
10. 微区化学成分分析技术
第二部分 分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例
1.塑料封装失效
2.引线键合失效
3.水汽和离子沾污
4.介质失效 5.过电应力损伤
6.闩锁效应
7.静电放电损伤
8.金属电迁移
9.金属电化学腐蚀
10.金属-半导体接触退化
11.芯片粘结失效
第三部分 电子元件的失效机理和案例
1. 电阻器
2. 电容器
3. 继电器
4.连接器
5.印刷电路板和印刷电路板组件
第四部分 微波半导体器件失效机理和案例
第五部分 混合集成电路失效机理和案例
第六部分 其它器件的失效机理和案例
讲师介绍
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费庆宇 男,信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委,长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992-1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。
 
开课时间:2007/11/17-18 温馨提示:本课程可邀请老师到企业内部培训!
机构名称:深圳市威硕企业管理咨询有限公司 咨询电话:0755-26506757 33558698
课程地区:江苏
联 系 人:李正华先生 彭静小姐 郑江波先生
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电子信箱:martin@ways.org.cn


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参加人数: 量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的失效机理、失效分析方法和纠正措施。具体事宜通知如下:


课程提纲:
第一部分电子元器件失效分析技术案例
1.失效分析的基本概念和一般程序
2.失效分析的电测试
3.无损失效分析
4.模拟失效分析
5.制样技术
6.形貌像技术
7.扫描电镜电压衬度像
8.热点检测技术
9.聚焦离子束技术
10. 微区化学成分分析技术
第二部分 分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例
1.塑料封装失效
2.引线键合失效
3.水汽和离子沾污
4.介质失效 5.过电应力损伤
6.闩锁效应
7.静电放电损伤
8.金属电迁移
9.金属电化学腐蚀
10.金属-半导体接触退化
11.芯片粘结失效
第三部分 电子元件的失效机理和案例
1. 电阻器
2. 电容器
3. 继电器
4.连接器
5.印刷电路板和印刷电路板组件
*人,报名参加2007/11/17-18开始,在江苏举办的《“电子元器件失效分析技术与案例”高级研修班》(课程编号:1502)。
联系电话: *  移动电话或传真:
电子邮件: * 所在单位:
咨询内容:
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官方微信号 pxke02 
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